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能量色散型X射线荧光分析仪阅读:1907

能量色散型X射线荧光分析仪是高灵敏度高精度测定有害物质的仪器。
  ROHS Validator 能量色散型X射线荧光分析仪——高灵敏度高精度测定有害物质

主要技术指标

  分析原理 能量色散X射线荧光分析法
  分析元素 Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)
  Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)
  检出下限 Cd/Pb/Hg/Br/Cr≤5ppm
  样品形状 460×380mm(高150mm)
  样品 塑料/金属/纸/涂料/油墨/液体
  样品室气氛 大气
  X射线管 靶材 Rh
  管电压 50KV
  管电流 1mA
  X射线照射径   1/3/5mm
  防护 <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)
  检测器 硅SIPIN探测器
  光学图像观察   倍率15倍
  软件 定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)
  照射径: 1/3/5mm
  定量分析: 基础参数法/标准法/1点校正
  计算机 CPU PentiumIV1.8GHz以上
  内存 256MB以上
  硬盘 20GB以上
  OS WindowXP
  监视器 17寸LCD
  周围温度 10~35。C(性能温度)/5~40。C(动作温度)
  周围湿度 5~31。C时温度范围:相对湿度80%以下
  31~40。C时温度范围:相对湿度50%以下
  电源 AC110V/220V±10%、50/60HZ
  消耗电力 1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)
  设备重量 约65kg(不含桌子、计算机)
  外形寸法 600(W)×545(D)×435(H)mm

定量分析

  A,FP基础参数法
  B,标准法
  C,1点校正

自动定性分析

  A, 自动过滤背景
  X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,
  从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
  B, 自动剥离重叠峰
  当某些元素的电子由高等级向低等级越迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由
  此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。
  C, 自动补偿逃逸峰
  逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素
  的含量较高(能量也会相应的较高),其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量
  值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。
  D, 自动追踪谱图漂移
  在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。

性能特点

  ◎ 高灵敏度---自动切换4种滤光片
  在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

世界上仪器

  第三代3DFAMILY X射线荧光分析仪来自于中国,采用世界上的硅SIPIN探测器(分辨率为150ev),实现了无液态氮检出器下高灵敏度的检测功能。配备自动切换的滤光片及透射式X射线球管,地缩小了X射线源与被测物体的间距,从而在较低的电压下达到同样的激发效率,同时减少了漫射光的干扰,大大地提高了灵敏度和读数的准确性,重复性。

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