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数显测高仪阅读:677

    数显测高仪是以光栅、容栅或磁栅作为测量元件的立式单坐标数字化几何量计量仪器。

技术要求

    3 外观

    3.1 要求

    3.1.1 仪器工作面不应有锈迹、碰伤、毛刺及划痕等缺陷,仪器非工作面不应有涂镀

    层脱落及生锈等疵病。钢带应平整、光滑,不应有皱摺。

    3.1.2 铭牌上应有制造厂名(或厂标)和出厂编号等标志。

    3.1.3 标志、刻字和刻线应正确和清晰口

    3.1.4 使用中和修理后的仪器,允许有不影响仪器使用功能和准确度的上述缺陷。

    3.2 检定方法:目力观察。

    4 各部分相互作用及一般性能

    4.1 要求

    4.1.1 运动部分应灵活、平稳、无卡滞现象,止动可靠。

    4.1.2 启动气泵后,在光滑平板上移动仪器应轻松自如。

    4.1.3 电气部分的开关、按键应灵敏可靠,指示灯和显示单元应工作正常。

检定项目

    1 数显测高仪的受检项目和检定用主要器具见表to

    2 检定条件

    检定 数 显 测高仪的室内温度:0级为(20士1)'C, 1 级和2级为(20士2)'C; 温度

    变化每小时应不超过0.5℃;被检仪器和检定用主要器具在室内平衡温度的时间应不少

    于12h。检定室内应避免影响工作的振动等各种干扰。

    1

    JJG 929-1995

    序号受检项目检定用主要器具

    检定类别

    新制的修理后使用中

    1 外观+ + +

    2 各部分相互作用及一般性能+ + +

    3 测力分度值攫0.5 N的测力计+ +

    4 仪器的垂直度测微仪,00级平板,00级直角尺+ + +

    5 重复性量块+ 十+

    6 示值误差

    00级平板,三等或四等量块(或

    双频激光干涉仪)

    + + +

    7 抗电干扰能力+ 十十

    注:表中“+”表示应检定,“一”表示可不检定。

概述

    用来测量平行平面之间距离、孔轴直径、中心距及形位误差等,其结构示意图如图1所示。量程有500 mm, 800 mm和1 000 mm等规格,仪器分为0级、1级和2级。

    栅尺

    立柱与导轨

    测量滑座

    触头

    底座

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