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高低温循环冲击试验箱（又名冷热冲击试验箱）适用于电子电器零组件、自动化零部件、通讯组件、汽车配件、金属、化学材料、塑胶等行业，国防工业、航天、兵工业、BGA、PCB基扳、电子芯片IC、半导体陶磁及高分子材料之物理牲变化,测试其材料对高、低温的反复抵拉力及产品于热胀冷缩产出的化学变化或物理伤害，可确认产品的品质,从精密的IC到重机械的组件，无一不需要它的理想测试工具。
1.高低温冲击试验箱模块化制冷系统,效率高,安装维护方便.
2.采用二元式制冷系统法国泰康或德国比泽尔压缩机组.
3.水浸查漏,查漏彻底,杜绝潜在泄露问题.
4.制冷系统,电控系统多项安全保护机制.
1.采用PID+PWM+SSR控制系统,控制稳定,精确。
2.正压式出风口设计,保证每个角落均有风循环到,温度达到高均匀度要求。
3.高/低温风道系统3s切换完成,高/低温冲击5min内恢复。
1.采用7寸真彩触摸屏,画面显示直观易操作，可做定值和程式控制，96组程序,每组程序3200次循环，250天历史数据保存功能.
2.预约开关机功能,结束规划设定,停电自动保存数据曲线等.
3.实时实验曲线分析，配备RS232，USB数据存储连接
4.试验结束待测品自动回常温避免结霜结露保护机制.
5.采用伺服冷媒流量控制技术有效达到节能30%以上
6.实验循环进行，有效达到3天除霜一次，除霜只需2小时
7.采用纯铝翅片蒸发器，有效降低储能时间和能量节省
8.具有两箱和三箱测试功能，符合测试规范
GB/T2423.1-1989低温试验方法；
GB/T2423.2-1989高温试验方法；
GB/T2423.22-1989温度变化试验；
GJB150.5-86温度冲击试验；
GJB360.7-87温度冲击试验；
GJB367.2-87 405温度冲击试验。
SJ/T10187-91Y73系列温度变化试验箱——一箱式
SJ/T10186-91Y73系列温度变化试验箱——二箱式
IEC68-2-14_试验方法N_温度变化
GB/T 2424.13-2002试验方法温度变化试验导则
GB/T 2423.22-2002温度变化
QC/T17-92汽车零部件耐候性试验一般规则
EIA 364-32热冲击（温度循环）测试程序的电连接器和插座的环境影响评估
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