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X射线荧光光谱仪阅读:1967

X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测,对产品和材料质量进行无损检测,对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段,也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时,X射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面仪器之一。

技术参数

析原理

能量色散X射线荧光分析法

分析元素

Si~U(Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型)

Na~U(任选:φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型)







样品室气氛

大气

X射线管

靶材

Rh

管电压

50KV

管电流

1mA

X射线照射径

1/3/5mm

防护

<0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕)

检测器

硅SIPIN探测器

光学图像观察

倍率15倍

软件

定性分析:自动定性(自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移)

照射径:1/3/5mm

定量分析:基础参数法/标准法/1点校正

计算机

CPU

PentiumIV1.8GHz以上

内存

256MB以上

硬盘

20GB以上

OS

WindowXP

监视器

17寸LCD

周围温度

10~35C(性能温度)/5~40C(动作温度)

周围湿度

5~31C时温度范围:相对湿度80%以下 /31~40C时温度范围:相对湿度50%以下

电源

AC110V/220V±10%、50/60HZ

消耗电力

1.3KVA以下(含计算机、LCD、打印机)

设备重量

约65kg(不含桌子、计算机)

外形寸法

600(W)×545(D)×435(H)mm


产品特点

  1、在测定微量成分时,由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响,此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片,有效地降低了背景和散射X射线的干扰,调整出感度的辐射,进一步提高了S/N的比值,从而可以进行更高灵敏度的微量分析。

  2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景,软件可自动过滤背景对分析结果的干扰,

  从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。

  3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近,会使此时谱图的波峰重叠在一起,由

  此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰,确保了元素分析的正确性。

  4、逃逸峰:由于采用的是Si针半导体探测器,因此当X射线荧光在通过探测器的时候,如果某种元素

  的含量较高或者能量较高,其被Si吸收的概率也就越大。此时,光谱图中在该元素的能量

  值减去Si能量值的地方回产生一个峰,此峰即为逃逸峰。

  5、在电压不稳的情况下,可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。


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