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1.微电脑控制、液晶显示
2.接触式测量
3.测头自动升降
4.手动、自动双重测量模式
5.数据实时显示、自动统计、打印
6.显示最大值、最小值、平均值和统计偏差
7.标准接触面积、测量压力（非标可选）标准量块标定
8.微型打印机
9.RS232接口
10.网络传输接口支持局域网数据集中管理与互联网信息传输
薄膜厚度测量仪的应用几乎遍及各个行业，尤其在以下领域表现尤为突出：
1. 半导体工业
随着集成电路技术的进步，薄膜的厚度控制对芯片性能至关重要。薄膜厚度测量仪能在制造过程中实时监控和调整薄膜厚度，确保产品质量。
2. 光学设备
光学薄膜的制造涉及到对光的反射和透射特性的精确控制，因此，光学薄膜厚度测量仪在此领域具有重要的意义。
3. 太阳能电池
在太阳能电池的生产中，薄膜的厚度直接影响到电池的效率。高性能的测量仪器可以帮助制造商提高转化效率，提升市场竞争力。
4. 涂层技术
在空气和液体的涂层技术中，薄膜厚度的均匀性和稳定性关系到产品的耐久性。测量仪器能确保涂层均匀，提升最终产品的使用寿命。
仪器发出不同波长的光波穿透样品膜层，膜的上下表面反射光被仪器接收，反射光相互之间的相位差增强或减弱。
相位差为波长整数倍时，产生建设性叠加，此时反射率最大；
相位差为半波长时，出现破坏性叠加，反射率最低；
整数倍与半波长之的叠加，反射率介于最大与最小反射之间。
这一相位差的变化，取决于薄膜的厚度d和折射率n已知材料的光学参数 (n,k) 值，可以推导出这一光学系统的反射率R(λ,d,n,k)。
当在设备中给光学参数 (n,k) 赋值，可以计算得反射率R，使其与设备测得反射率R'，进行比对通过强算法计算，当反射率曲线R与实测反射率R'曲线完美拟合时，通过解析干涉图形，即可求得薄膜的厚度d。
1.测量范围：0~2mm；0~6mm，12mm（可选）
2.测量速度：10次/min（可调）
3.测量压力：17.5±1kPa（薄膜）；50±1kPa（纸张）
4.接触面积：50mm2（薄膜）；200mm2（纸张）
注：薄膜、纸张任选一种；非标可定制
5.电 源：AC 220V 50Hz
6.外形尺寸：300 mm(L)×275 mm(B)×300 mm(H)
7.净 重：33kg
