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光回波损耗测试仪阅读:481

  光回波损耗测试仪可同时测量插入损耗和回波损耗。操作简单,一机多用。适用于单模光纤光缆、光器件的插入损耗和回波损耗的测量。校准参数可以存储,用户不需要每天校准,简化了测量过程。测量重复性好,接头易于清洁。广泛应用于光纤通信科研、教学和生产领域。

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特点

  ●测量速度快

  该产品为用户提供了校准参数存储功能,当测试系统未发生改变时,再次开机,仪器直接调用上次关机前保存的校准参数,无须再次进行校准设置,简化了测试步骤。

  另外,该产品为提高易用性,软件上做了特别设计,使得仅须简单切换按键,即可同时测量出回损和插损,大大提高了测量速度。

  ●动态范围大:0~70dB

  该产品内部光路采用了超低反射的光器件,电路上采用了同相检测技术,使得仪器回波损耗测量范围很大,可达70dB,可以满足PC、UPC、APC端面的回损测试。

  ●回损、插损同时测量

  该产品面板上有“功率”和“回损”按键,测试过程中,只须操作按键,简单切换,即可同时测量出被测件的回损和插损。

  ●测试接口易拆卸和清洁

  该产品的功率端口支持多种连接方式,可配备FC型接头、万能接头或LC型接头,根据被测件接口(如FC、SC、ST、LC等)类型的不同,用户可自行拆卸更换。功率端口结构设计巧妙,拆卸简单,清洁方便。

  该产品的回损端口和光源输入端口一体化设计,无需拆机即可整体拆卸,使内部光纤端头的清洁非常方便。


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