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分立器件测试仪阅读:11

分立器件测试仪是一种专门用于测试分立半导体器件(如二极管三极管、场效应管、晶闸管、稳压管、光耦等)电性能参数的电子测量仪器

测试参数

  1.二极管:正向压降(Vf)、反向漏电流(Ir)、反向击穿电压(Vbr)

  2.BJT:hFE(直流电流放大系数)、Iceo(集电极-发射极漏电流)、Vce(sat)(饱和压降)

  3.MOSFET:Vth(阈值电压)、Rds(on)(导通电阻)、Idss(饱和漏极电流)、跨导(gm)

  4.SCR/TRIAC:触发电流(Igt)、维持电流(Ih)、断态重复峰值电压(Vdrm)

  5.稳压管:稳定电压(Vz)、动态阻抗(Zzt)

  常见分立器件测试仪类型

  1.手持式简易测试仪

  如:晶体管测试笔、LCR-T4(开源多功能测试仪)

  优点:便携、便宜、操作简单

  缺点:精度低、功能有限,不适合精密测量

  2.台式自动测试系统

  如:Keysight B1500A、Tektronix Keithley 2600系列、Chroma 3380、华峰HT系列

  特点:高精度、可编程、支持IV曲线扫描、自动化测试

  3.适用于产线和实验室

  专用测试夹具+源表(SMU)组合

  使用数字源表(如Keithley 2400/2450)配合定制夹具,灵活搭建测试平台

选型建议

  1.研发/实验室:选择高精度、可编程、支持曲线追踪的台式测试仪

  2.产线质检:注重测试速度、稳定性、自动化接口(如GPIB、USB、LAN)

  3.教学/维修:可选用经济型手持或桌面多功能测试仪(如LCR-T4、Peak Atlas DCA系列)

注意事项

  1.测试前确认器件引脚定义,避免接错损坏器件或仪器

  2.高压测试时注意安全防护(尤其测试击穿电压)

  3.对于MOSFET等静电敏感器件,需采取防静电措施

  4.定期校准仪器以保证测试准确性

主要测试对象

  二极管(整流、开关、肖特基、齐纳/稳压二极管等)

  双极型晶体管(NPN/PNP型BJT)

  场效应晶体管(MOSFET、JFET)

  晶闸管(SCR、TRIAC)

  光电耦合器(光耦)

  稳压模块、TVS管、IGBT等

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