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蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验。

规格参数

  内外箱体材质:SUS304#优质不锈钢板
  保温层:PV发泡胶
  升温时间:大约40分钟;控制功能:PID+SSR,数字式显示
  蒸气温度:97℃
  计时功能:1~9999分钟,附时到报警功能,时间到达后切断电源
  水位控制:附水箱自动补水
  电源:1~220V±10%50Hz3.0KW

结构特点

  老化箱整体不锈钢SUS#304HL制成,操作设定简易微电脑数位LED控制,具时间规划功能,可设定9,990Mins多重超温保护/缺水切电热等安全装置。零件、连接器被动元件,半导体接脚高温高湿氧化试验。金属接脚沾锡性试验加速老化试验。采用式PID+SSR温度控制器,同时具有时间计时功能,可设定9990分式无限。

简介

  蒸汽老化试验箱适用于电子连接器、半导体IC、晶体管、二极管、液晶LCD、芯片电阻电容、零组件产业、电子零组件金属接脚沾锡性试验前的老化加速寿命时间试验;半导体、被动组件、零件接脚氧化试验。微电脑温度控制器、LED数字显示,PID+SSR控制,白金电阻温度传感器(PT100),解析度0.1℃,。

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