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压电晶体受到压力作用产生电荷Q；Ca 是传感器级间，Qa 是此时充到Ca 中的电荷；Cc 是传感器传输Rf的阻值为无限大：
Q=Qa+Qc+Qi+Qf=Ud×（Ca+Cc+Ci+（1+A）Cf）
所以在精度的范围内可以忽略部分数量级小的部分，可以认为：
根据传感器的电荷灵敏度、量程和反馈的电容计算出输出的最大电压。
在测试系统中，测试产品在规定的条件下和规定的时间内，完成规定功能的能力即为可靠性。测试系统的每一部分都会不同程度的影响整个系统的可靠性，由于部分的失效引起的系统失效的概率也就不同。
随着存储测试技术的发展，存储测试系统逐渐模块化、标准化和系列化。如果将一些功能模块制成ASIC，就会满足动态测试对测试装置的要求，并使存储测试系统可靠性得到极大地提高。电荷放大器是测试系统中的一个串联环节，因此它的失效直接影响整个系统的失效。
