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X射线荧光光谱仪的不断完善和发展所带动的X射线荧光分析技术已被广泛用于冶金、地质、矿物、石油、化工、生物、医疗、刑侦、考古等诸多部门和领域。X射线荧光光谱分析不仅成为对其物质的化学元素、物相、化学立体结构、物证材料进行试测，对产品和材料质量进行无损检测，对人体进行医检和微电路的光刻检验等的重要分析手段，也是材料科学、生命科学、环境科学等普遍采用的一种快速、准确而又经济的多元素分析方法。同时，X射线荧光光谱仪也是野外现场分析和过程控制分析等方面仪器之一。
析原理 | 能量色散X射线荧光分析法 | ||
分析元素 | Si～U（Cd/Pb/Cr/Hg/Br高精度型） | ||
Na～U(任选：φ1.2mm/φ0.1mm切换方式型） | |||
样品室气氛 | 大气 | ||
X射线管 | 靶材 | Rh | |
管电压 | 50KV | ||
管电流 | 1mA | ||
X射线照射径 | 1/3/5mm | ||
防护 | <0.1mR/Hr (辐射低于电脑屏幕） | ||
检测器 | 硅SIPIN探测器 | ||
光学图像观察 | 倍率15倍 | ||
软件 | 定性分析：自动定性（自动去背景/自动剥离重叠峰/自动补偿逃逸峰/自动补偿谱图漂移） | ||
照射径：1/3/5mm | |||
定量分析：基础参数法/标准法/1点校正 | |||
计算机 | CPU | PentiumIV1.8GHz以上 | |
内存 | 256MB以上 | ||
硬盘 | 20GB以上 | ||
OS | WindowXP | ||
监视器 | 17寸LCD | ||
周围温度 | 10～35C（性能温度）/5～40C（动作温度） | ||
周围湿度 | 5～31C时温度范围：相对湿度80%以下 /31～40C时温度范围：相对湿度50%以下 | ||
电源 | AC110V/220V±10%、50/60HZ | ||
消耗电力 | 1.3KVA以下（含计算机、LCD、打印机） | ||
设备重量 | 约65kg(不含桌子、计算机） | ||
外形寸法 | 600（W）×545（D）×435（H）mm | ||
1、在测定微量成分时，由于X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，致使目标峰的观测比较困难。为了降低或消除背景和特征谱线等的散射X射线对高灵敏度分析的影响，此荧光分析仪配置了4种可自动切换的滤光片，有效地降低了背景和散射X射线的干扰，调整出感度的辐射，进一步提高了S/N的比值，从而可以进行更高灵敏度的微量分析。
2、X射线管的连续X射线所产生的散射线会产生较大的背景，软件可自动过滤背景对分析结果的干扰，
从而能确保对任何塑料样品的进行快速准确的分析。
3、当某些元素的电子由高等级向低等级跃迁时释放的能量相近，会使此时谱图的波峰重叠在一起，由
此产生了重叠峰。SCIENSCOPE自行开发的软件自动剥离重叠峰，确保了元素分析的正确性。
4、逃逸峰：由于采用的是Si针半导体探测器，因此当X射线荧光在通过探测器的时候，如果某种元素
的含量较高或者能量较高，其被Si吸收的概率也就越大。此时，光谱图中在该元素的能量
值减去Si能量值的地方回产生一个峰，此峰即为逃逸峰。
5、在电压不稳的情况下，可对扫描谱图的漂移进行自动追踪补偿。
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